德國SICK無浮標(biāo)開關(guān)KT10W-2P1115S03
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產(chǎn)品名稱: 德國SICK無浮標(biāo)開關(guān)KT10W-2P1115S03
產(chǎn)品型號(hào): 1060529
產(chǎn)品展商: SICK
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簡單介紹
例如由于半透明表面或多層薄層，究竟是對(duì)物體具有測量能力，還是結(jié)果會(huì)受到物理效應(yīng)的顯著影響
德國SICK無浮標(biāo)開關(guān)KT10W-2P1115S03
的詳細(xì)介紹
德國SICK無浮標(biāo)開關(guān)KT10W-2P1115S03
例如由于半透明表面或多層薄層，究竟是對(duì)物體具有測量能力，還是結(jié)果會(huì)受到物理效應(yīng)的顯著影響？
如何處理表面上的沉積物（如油、灰塵、切屑等）？由于與機(jī)械測量裝置不同，定義的壓力不影響表面，是否需要過濾機(jī)制？
由于機(jī)械測量裝置的測量點(diǎn)通常遠(yuǎn)大于光學(xué)測量裝置，光學(xué)測量裝置的測量結(jié)果必須在較大的面積內(nèi)進(jìn)行平均
從機(jī)械測量裝置更換為光學(xué)測量裝置可能需要一定的開銷。但另一方面也會(huì)獲得長期的**，例如成本節(jié)約，吞吐量增加，對(duì)測試
物體沒有機(jī)械影響，并且每個(gè)流程步驟的質(zhì)量都有所提*。
測量方法的主要**比較
機(jī)械 光學(xué)
成熟可靠，一般在標(biāo)準(zhǔn)中說明 無損
在臟污情況下對(duì)測量結(jié)果影響較小 快速
SMC CM2B40-60Z
TU0805BU-20
TU1065BU-20
ZSE30A-01-P-L 1
MGPM50-100AZ-M9PL
AC40C-04DG-V-A
KQ2U16-00A
MGPM16-10Z
KQ2E08-01A
KQ2T08-00A
KQ2T10-08A
KQ2S08-01AS
CDM2E40-75Z
CDM2WB25-75Z
MDB1B63-50Z
MDB1B80-125Z
SMC AD402-04
SMC VFS3220-5D-02
VT307-5DZ1-01F-F-Q
哈威PMVP4-42/G24
柱塞泵_R2.5A
Burkert 00562638
寶德/Burkert 000178608
寶德/Burkert 00432304
寶德/Burkert 00300029
寶德/Burkert 00183269
寶德/Burkert 00134345
德/Burkert 00466588
